近日，伟德bevictor中文版智慧农业系任天恒课题组在利用小麦穗发芽抗性QTL研究的工作中取得新进展。该研究以抗穗发芽品种川农17和易感穗发芽品种川农11创制的RIL群体为研究材料，通过小麦55K芯片绘制了一张含有8329个SNP分子标记的高密度遗传连锁图谱。通过多年的穗上发芽率调查，在小麦3D染色体上定位了一个能够显著提高小麦整穗发芽率（The spike germination rate, SGR）的稳定主效QTL位点cQSGR.sau.3D，该位点可以解释群体中33.25%的SGR的表性变异。

图1不同株系的穗发芽情况

研究发现，凡是携带有该QTL位点的株系，其SGR值在不同的年份中分别为26.21%，21.92%，38.28%和28.95%（平均数），而不含该QTL位点的株系，其SGR值在不同年份中则分别为7.9%，4.68%，15.05%和9.26%（平均数）。两者之间具有显著差异（P<0.001）。

图2携带有相应QTL位点的株系会显著提高SGR

值得注意的是，一般来说，小麦的穗发芽率（SGR）和发芽指数（GI），发芽率（GR），发芽势（GP）等呈显著正相关关系。而在本研究中发现的主效QTL位点cQSGR.sau.3D仅显著影响SGR的表型，而与GI、GR、GP等性状之间无显著关系，因此具有更为重要的应用意义。

图3 QTL cQSGR.sau.3D对SGR和GI的影响

该研究以bevictor伟德官网为第一署名单位，伟德bevictor中文版李治老师和2022届硕士毕业生陈永艳为共同第一作者，任天恒副教授为通讯作者，以题目《Identification of a stable major‑effect quantitative trait locus for pre‑harvest sprouting in common wheat (Triticum aestivumL.) via high‑density SNP‑based genotyping》在国际著名期刊《Theoretical and Applied Genetics》（中科院一区TOP期刊，IF=5.574）发表，为雨养农业区的小麦抗穗发芽育种提供了新依据。

全文链接：https://link.springer.com/article/10.1007/s00122-022-04211-y